邀请函丨行业资深专家亲临岛津线上XPS高级研讨会，等您来！

随着我国材料、环境、能源、信息产业及微电子等领域的迅猛发展，表面科学成为最为活跃的研究领域之一，同时表面分析技术的需求也日益增长。X射线光电子能谱（XPS）技术作为一种表面分析技术，在鉴定材料表面的化学性质与组成方面具备独特的优势，已经广泛应用于基础科研、先进材料研制、高精尖技术等领域，促进了材料学科的研究与发展。为了有效推动表面分析应用技术的发展，深入了解光电子能谱技术的仪器性能特点，充分发挥已购仪器在教学科研生产工作中的作用，提高广大表面分析用户的分析测试水平，同时搭建一个用户与表面技术专家之间，用户与厂家之间技术深入交流的平台，共同探讨测试技术，解决实际使用中的难题，特邀国内资深XPS技术专家于3月30日为大家云端授课，线上交流。

岛津AXIS Supra⁺

课程亮点

具备多年一线测试经验的行业专家进行测试经验及案例分享；
通过专家授课、经验交流、案例分享等方式，提高学员数据分析和图谱解析的能力，助力学员日后的科研工作，充分发挥和挖掘仪器性能；
岛津资深专家及工程师关于技术应用、仪器构造进行讲解；
强化熟悉仪器结构、XPS应用等方面的知识，提升软件操作、数据分析等方面能力。

研讨会日程

授课专家

孙立民，上海交通大学分析测试中心副研究员，美国纽约州布法罗分校分析化学博士。博士论文期间，借助XPS开发ToF-SIMS技术对表面有机分子自主装特性及氧化反应的表征。自2009年加入上海交通大学分析测试中心以来，主要从事表面化学分析的测试与咨询服务工作，并在每年的材料学院研究生仪器分析方法课程中承担XPS技术介绍的讲座。主持完成了“高等学校仪器设备和优质资源共享系统”基金支持下的“大型仪器示范机组建设”子项目。已在SCI刊物上发表论文10多篇。撰写了《分析化学手册》（第三版）中“无机质谱分析”分册中第十二章：飞行时间二次离子质谱仪。2016~2017年度上海市大型科学仪器设施“共享服务（技术类）先进个人”，第六届上海分析测试技术论坛岛津杯优秀论文奖一等奖。

邹业，中国科学院化学研究所副研究员。2007年和2012年分别本科和博士毕业于北京交通大学，2012年8月起在中国科学院化学研究所从事博士后研究，并在出站后留所工作至今。先后在日本九州大学、新加坡国立大学、日本广岛同步辐射科学中心访问交流/学习，长期从事有机光电器件制备与功能物性表征测试研究。负责化学所分子器件研究平台多功能光电子能谱、低能反光电子能谱、综合物测量系统等多套大型综合研究系统建设，并负责它们的日常运行及围绕其开展相关科学研究。此外，针对分子材料高阻抗、亚稳定或分子结构易破坏的特点，重点研究将传统测试技术迁移到分子材料体系的精准而可靠测试方法。

龚沿东，研究员，岛津公司市场部XPS和EPMA首席技术专家，1986年毕业于清华大学现代应用物理系，曾任中国科学院金属研究所分析测试部主任（研究员）。英国国家物理实验室（National Physical Laboratory）访问学者，美国圣母大学（University of Notre Dame）化工系研究助理。现任全国微束分析标准化技术委员会委员，全国微束分析标准化技术委员会表面分技术委员会委员。