邀请函|XPS高级研讨会(第六期),测试及数据分析干货来袭!
导读
近年来,材料、环境、能源、信息产业及微电子等领域的迅猛发展促使表面科学成为最为活跃的研究科学之一,同时对于表面分析技术的需求也日益增长。X射线光电子能谱(XPS)技术作为一种表面分析技术,在鉴定材料表面的化学性质与组成方面具备独特的优势,已经广泛应用于基础科研、先进材料研制、高精尖技术等领域,促进了材料学的研究与发展。在日常测试及数据分析过程中,您是否遇到过以下问题?
针对以上问题,特邀国内资深XPS技术专家,与岛津XPS应用工程师一起于8月30日为大家云端授课,线上交流,本次研讨会聚焦光电子能谱测试经验分享,谱峰拟合数据分析,满满的干货来袭,期待您的参与。
本次研讨会主题
研讨会安排
授课专家
江柯敏,中国科学院宁波材料技术与工程所公共技术服务中心高级工程师,主要从事纳米材料及薄膜材料等的表面/界面研究。在X射线和紫外光电子能谱(XPS、UPS)的测试方面,具有十几年一线测试实践经验。熟悉XPS和UPS测试分析和谱图解析,善于针对疑难样品提供测试方案和仪器功能扩展。主持光电子能谱相关的中科院功能开发项目、浙江省公益性测试基金项目和宁波市自然基金项目,已在SCI刊物上发表论文18篇,授权国家发明和实用新型专利各1项。
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