经验分享丨岛津XPS技术及数据分析方法介绍

随着我国材料、环境、能源、信息产业及微电子等领域的迅猛发展,表面科学成为最为活跃的研究科学之一。X射线光电子能谱(XPS)技术作为一种表面分析技术,在鉴定材料表面的化学性质与组成方面具备独特的优势,已经广泛应用于基础科研、先进材料研制、高精尖技术等领域。岛津在2019年推出了全自动X射线光电子能谱仪——AXIS SUPRA+ ,是基于卓越的专利技术,兼备高分辨采谱和快速平行成像功能的多技术型 X 射线光电子能谱,为材料表面分析领域提供坚实的技术支持。
7月16日,下午14:00-15:00诚邀您一同学习交流XPS技术和数据分析相关内容,我们将重点分享岛津XPS技术特点、XPS常见谱峰结构、数据分析方法等内容,希望能够对您有所帮助!

主要内容

XPS技术特点介绍
XPS常见谱峰结构
XPS数据分析方法介绍
 

王文昌,岛津分析中心XPS应用工程师,负责XPS的应用开发、技术支持、合作研究等工作,使用XPS技术开展新型材料表征相关研究,在国内外期刊合作发表多篇SCI论文,熟悉XPS数据处理及解析。

PC链接:https://masystem.shimadzu.com.cn/u/pct423923

本文内容非商业广告,仅供专业人士参考。

作者: 
分析中心
列表显示类型: 
右图
列表图片: 
所属合集: 
24
账号内置顶: 
推荐到首页: 
产品详情显示位置: 
更多信息